SHK-B301 HAST试验箱

设备概述

HAST试验箱是利用高温(通常为130°℃)高相对湿度(约85%)、高大气压力的条件(达3 atm)来加速潮气通过外部保护材料或芯片引线周围的恋封封装的试验设备，用于评估产品及材料在高温，高湿，高气压条件下对湿度的抵抗能力，加速其失效过程，该试验检查芯片及其他材料长期贮存条件下，高温和时间对器件的影响。本规范适用于量产芯片验证测试阶段的HAST测试需求，仅针对非密封封装(塑料封装)带偏置(bHAST)和不带偏置(uHAST)的测试 

设备使用范围：

军工、核工业、航空航天、电子、电器、半导体芯片、汽车、通讯设备、等行业。

高温高湿作用于试验样品上，可以构成水汽吸附，吸收和扩散，许多材料在吸入湿度后膨胀,性能变差，引起强度降低，机械性能下降，吸附了水汽的绝缘材料引起电性能下降等。所以在一定的时间下完成HAST试验以此来确认产品的质量度。

满足测试标准：

GB-T2423.40-1997电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热

IEC60068-2-66-1994环境试验第2-66部分:试验方法试验Cx:稳态湿热(不饱合加压蒸汽) JESD22-A100循环温湿度偏置寿命

JESD22-A101 THB加速式温湿度及偏压测试 JESD22-A102加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮

JESD22-A108温度，偏置电压，以及工作寿命(IC寿命试验) JESD22-A110高加速温湿度应力试验(HAST)

JESD22-A118 加速水汽抵抗性--无偏压HAST(无偏置电压未饱和高压蒸汽)

产品特点:

用户可以查看他们希望查看任何数据

通过电脑安全便捷的远程访问

多层级的敏感数据保护

便捷的程序入口、试验设置和产品监控

试验数据可以导出为Excel格式并通过USB接口进行传输

HAST测试条件有130℃，85%RH，230KPa大气压，96hour测试时间。

主要参数：