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当前位置:首页 > 产品中心 > > 推拉力测试机 > SHK-A191芯片推拉力测试机

芯片推拉力测试机

简要描述:芯片推拉力测试机广泛应于与LED封装测试、IC半导体封装测试、TO封装测试、IGBT功率模块封装测试、光电子元器件封装测试、汽车领域、航天航空领域、军工产品测试、研究机构的测试、微电子行业测试及各类院校的测试研究等应用。公司产品有:半导体推力测试仪,半导体推拉力仪器,LED推拉力测试机,LED推拉力测试机,拉伸试验机,自动推拉力测试机,自动推拉力测试机

  • 产品型号:SHK-A191
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2022-03-07
  • 访  问  量:419

详细介绍

品牌自营品牌应用领域化工,能源,电子,电气,综合
芯片推拉力测试机0-200kg

SHK-A191芯片推拉力测试机多功能推拉力测试仪(微焊点强度测试仪器)多功能焊接强度测试仪,可执行芯片推拉力和剪切力测试应用。可配置为简单焊线拉力测试仪,也可升级进行锡球剪切力、晶粒剪切力、凸块拉力、矢量拉力或镊钳拉力测试是用于微电子封装和pcba电子组装制造及其失效分析领域的专用动态测试仪器,是国内的微电子和电子制造领域的重要仪器设备。

该设备测试动作迅速、准确、适用面广、测试精度高,适用于半导体ic封装测试、led封装测试、光电子器件封装测试、pcba电子组装测试、汽车电子、航空航天、军工等等。亦可用于各种电子分析及研究单位失效分析以及各类院校教学和研究领域。

image.png

 

芯片半导体推拉力测试机主要技术参数:

型号

 SHK-A191

名称

芯片推拉力测试机

拉力测试精度

传感器量程0-100g可定制

测试精度±0.25%

中欧官网推力测试

传感器量程:0-500G可定制

测试精度±0.25%

晶片推力测试

传感器量程:0-20KG可定制

测试精度±0.25%

剪切高度设置精度

1um

控制程序

压力测试

拉力测试

剪切力测试

推力测试

X工作台

有效行程80mm(可按需定制);分辩率0.002mm

Y工作台

有效行程80mm(可按需定制);分辩率0.002mm

Z工作台

有效行程80mm(可按需定制);分辩率0.001mm

推刀尺寸

面宽(G)0.2mm,厚度(H)0.08mm(按需定制)

推刀尺寸

面宽(G)2.5mm,厚度(H)0.45mm(按需定制)

平台夹具

平台夹具:平台可共用推力、拉力、剪切的等各种夹具,夹具可360度旋转。

电源

220V+5%

气源

4.5-6 BAR

功率

300W(max)

砝码

10g、25g、50g、100g、250g、500g、1kg、1.25kg、2.5kg

设备尺寸

长:570mm 宽:425mm 高:670mm

推力适用范围

量程

标准配置

25G

250G

250G

100G

50G

1KG

1000G

500G

200G

100G

5KG

5KG

2.5KG

1KG

500G

20KG

20KG

10KG

4KG

2KG

100KG

100KG

50KG

20KG

10KG

200KG

200KG

100KG

40KG

20KG

拉力适用范围

量程

标准配置

25G

250G

10G

5G

2.5G

50G

50G

25G

10G

5G

100G

100G

50G

25G

10G

1000G

1000G

500G

25G

100G

5KG

5KG

2.5KG

1.25KG

500G

20KG

20KG

10KG

5KG

2.5KG

 

 

 

 

 

 

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