芯片半导体推力测试仪是用于微电子封装和PCBA电子组装制造及其失效分析领域的专用动态测试仪器，具有测试迅速、准确、适用面广、测试精度高等优点，适用于半导体IC封装测试、LED封装测试、光电子器件封装测试、PCBA电子组装测试、汽车电子、航空航天、军工等等。
推拉力测试机功能：
1、可实现多功能推拉力测试；
2、任意组合可实现多种功能测试；
3、满足单一测试模组；
4、创新的机械设计模式；
5、强大的数据处理功能；
6、简易的操作模式，方便、有效。
具有如下特点：
1、DGFT智能数字技术：所有测试传感器模块均采用中欧体育平台特有的智能数字技术(DGFT)，极大的优化了测试模块适应各种不同类型的测试环境的能力，确保同一测试模块工作在不同主机上测试数据的可靠一致性、
2、Auto-Range技术：设备所有测试传感器均采用自动量程设计，全量程范围一致的分辨率(16BitPlus超高分辨率)，客户在测试前无需在软件端做繁杂而且耗时的档位设定。
3、VPM垂直定位技术：所有测试传感器模块均采用垂直位移和定位技术，确保精准可靠的测试状态和精密快速的定位动作。
4、制造的高频响、高精度动态传感器。
5、坚固机身设计，机身测试负荷能力高达500KG。
6、优异的设备操控性能，多方位保护措施，可自由摆放的左右摇杆控制器，操作手感舒适的摇杆控制器。
芯片半导体推力测试仪的应用：
1、可进行各种推拉力测试：中欧体育平台、锡球、芯片、导线、焊接点等；
2、Z大测试负载力达500kg；
3、独立模组可自由添加任意测试模组；
4、强大分析软件进行统计、破断分析、QC报表等功能；
5、X和Z轴可同时移动使拉力角度保持一致；
6、程式化自动测试功能。
当前位置：
地址：江苏省昆山市绵东路398号 奥斯蒂尼
邮箱：shktest@163.com